Микроскоп МОМ

Средняя: 5 (1 оценка)
Наличие:
 Под заказ

Микроскопы отсчетные МОМ предназначены для измерения отпечатка (лунки), образуемой на поверхности различных металлов при определении твердости по методу Бринелля, а также для оперативного контроля крупногабаритных деталей.

Технические характеристики
Характеристики Значение
Увеличение 20х крат
Цена давления 0,01 мм
Увеличение обьектива
Увеличение окуляра 20х
Фокусное расстояние 30 мм
Наличие подсветки нет

 

Похожие товары
Микроскоп отсчетный
Отзывы: 0
4.75
Цена: по запросу