Микроскоп МОМ
Микроскопы отсчетные МОМ предназначены для измерения отпечатка (лунки), образуемой на поверхности различных металлов при определении твердости по методу Бринелля, а также для оперативного контроля крупногабаритных деталей.
Характеристики | Значение |
Увеличение | 20х крат |
Цена давления | 0,01 мм |
Увеличение обьектива | 2х |
Увеличение окуляра | 20х |
Фокусное расстояние | 30 мм |
Наличие подсветки | нет |
Комплект поставки
- МОМ-20
- Паспорт
Отзывы
Похожие товары