Микроскоп МОМ

Наличие:

Под заказ

МИКРОТЕХ

Паспорт

Количество:

Микроскопы отсчетные МОМ предназначены для измерения отпечатка (лунки), образуемой на поверхности различных металлов при определении твердости по методу Бринелля, а также для оперативного контроля крупногабаритных деталей.

Технические характеристики
Характеристики	Значение
Увеличение	20х крат
Цена давления	0,01 мм
Увеличение обьектива	2х
Увеличение окуляра	20х
Фокусное расстояние	30 мм
Наличие подсветки	нет